Hi, Jerry and Eden:About remove two

Hi, Jerry and Eden:About remove two 560uF, Our EE need measure 1.35V/1.2V related power transient can meet NV spec or not.If proposal1 removed 560uf test result is fine, it’s low risk and low impact for next phase cut in but my customer need report to Dell internal if proposal2 change schematic and layout impact.Below is my question.Scenario 2 Why AOZ5636 PIN SMOD # pulled High VCC, + 1.35vs_VGA SVID slue rate time can be reduced rise and fall time?Thanks .Best regardsJay Yu

結果 (繁體中文) 1:

嗨，傑里和伊甸園：

關於刪除兩個560uF，我們需要EE測量1.35V / 1.2V相關電力過渡能夠滿足NV規範與否。
如果proposal1刪除560uf的測試結果是好的，它的風險低，在下一階段割低的影響，但戴爾內部我的客戶的需求申報，如果proposal2變化原理圖和佈局的影響。
下面是我的問題。
方案2為什麼AOZ5636 PIN SMOD＃拉到高VCC，+ 1.35vs_VGA SVID極多速率時間上升和下降時間而降低？
謝謝 。

最好的問候
傑宇

結果 (繁體中文) 2:

嗨，傑瑞和伊甸園：

關於刪除兩個560uF，我們的EE需要測量1.35V/1.2V相關的功率瞬態可以滿足NV規格或不。
如果提案1刪除了560uf測試結果，則下一階段削減的風險低，影響小，但如果我的建議2改變原理圖和佈局影響，我的客戶需要向戴爾內部報告。
下面是我的問題。
方案 2 為什麼 AOZ5636 PIN SMOD = 拉高 VCC， = 1.35vs_VGA SVID sVID slue 速率時間可以減少上升和下降時間？
謝謝。

此致敬意
余傑

結果 (繁體中文) 3:

嗨，傑瑞和伊登：
關於去掉兩個560uF，我們的EE需要量測1.35V/1.2V相關的功率瞬態是否能滿足NV規範。
如果proposal1移除560uf測試結果良好，則下一階段切入風險低，影響小，但如果proposal2更改原理圖和佈局影響，則我的客戶需要向戴爾內部報告。
下麵是我的問題。
場景2為什麼AOZ5636針煙霧彈拉高VCC，+1.35vs VGA SVID slue速率時間可以縮短上升和下降時間？
謝謝。
致意
餘傑