monolayers were characterized using

monolayers were characterized using neutron and Xray reflectometry, while the lateral structure was investigated using grazing incidence X-ray diffraction and Brewster angle microscopy.

結果 (繁體中文) 1:

單分子膜進行了表徵使用中子和 x 射線反射顯微鏡放牧入射 x 射線衍射和布儒斯特角的橫向結構進行了探討。

結果 (繁體中文) 2:

用中子和X射線反射單層進行表徵，而橫向結構，使用掠入射X射線衍射和布魯斯特角顯微鏡研究。

結果 (繁體中文) 3:

利用中子和X射線反射特徵的單層，而橫向結構採用掠入射X射線衍射和布魯斯特角顯微鏡研究。