• SEs provide information on the su

• SEs provide information on the surface topography of the sample.• If a SE is generated close to the sample surface, it can leave the sample with a high probability and can be collected at the detector.• SEs generated deep in the sample's volume will be absorbed with a high probability and cannot escape to the detector.• The features of the sample cause a variation in the secondary electrons yield and accounts for direct information on the topography.• The contrast of secondary electron images depends mainly on the tilt angle and topography of the specimen surface.

結果 (繁體中文) 1:

•的SE提供關於樣品的表面形貌信息。
•如果SE產生接近樣品表面時，它可以以高概率離開樣品，並且可以在檢測器中收集。
•在樣品的體積深生成的SE將具有高概率被吸收而不能逃脫到檢測器。
•樣品中引起二次電子的變化的特徵產生和佔對地形的直接信息。
•二次電子圖像的對比度主要取決於試樣表面的傾斜角和形貌。

結果 (繁體中文) 2:

• SEs 提供有關樣品表面地形的資訊。
• 如果 SE 生成在靠近樣品表面的地方，則使樣品保持高概率，並可在探測器上收集。
• 樣品體積深處產生的SEs被吸收的概率很高，無法逃逸到探測器。
• 樣品的特徵導致二次電子產量的變化，並說明地形的直接資訊。
• 次生電子圖像的對比度主要取決於試樣表面的傾斜角度和地形。

結果 (繁體中文) 3:

•SEs提供樣品表面地形的資訊。
•如果在靠近樣品表面的地方產生硒，則硒極有可能離開樣品，並可在檢測器處收集。
•在樣品體積深處產生的SEs將以很高的概率被吸收，並且無法逃逸到檢測器。
•樣品的特徵導致二次電子產額的變化，並解釋了地形的直接資訊。
•二次電子影像的對比度主要取決於試樣表面的傾角和形貌。