Apparently, the width of single track reduced while the scanning speed的繁體中文翻譯

Apparently, the width of single tra

Apparently, the width of single track reduced while the scanning speed increased as shown in table 5.4. The worst single trajectory appears in the model of scanning speed 100 mm/s which of the VED is 416 J/〖mm〗^3. The VED decreases with the increasing scanning speed, as shown in figure 5.4. As the figure 5.5 shows, with the growing VED, the track width elevates from 100 μm to 255 μm, in another word, as the scanning speed increases, the track width decreases. The tendency fits the experiment data in figure 5.6.
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結果 (繁體中文) 1: [復制]
復制成功!
顯然,單個軌跡的寬度減小,而掃描速度增加如表5.4。最壞的單軌跡出現在掃描速度:100毫米/秒的模型,其中VED的是416焦耳/毫米〖〗^ 3。所述VED日益增加的掃描速度減小,如圖5.4。如該圖5.5顯示,與生長VED,軌道寬度為100微米至255微米,在另一字升高,作為掃描速度的增加,寬度減小的軌道。該趨勢符合圖5.6的實驗數據。
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結果 (繁體中文) 2:[復制]
復制成功!
顯然,單軌的寬度減小,而掃描速度增加,如表5.4所示。最差的單軌跡出現在掃描速度 100 mm/s 的模型中,其中 VED 為 416 J/mm_3。VED 隨掃描速度的增加而降低,如圖 5.4 所示。如圖 5.5 所示,隨著 VED 的不斷增大,軌道寬度從 100 μm 提升到 255 μm,換句話說,隨著掃描速度的提高,軌道寬度減小。這種趨勢符合圖5.6中的實驗資料。
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結果 (繁體中文) 3:[復制]
復制成功!
顯然,單軌寬度减小,掃描速度新增,如錶5.4所示。在掃描速度為100mm/s的模型中,最差的單條軌跡出現在VED為416j/“mm”^3的模型中。VED隨掃描速度的新增而降低,如圖5.4所示。如圖5.5所示,隨著VED的新增,磁軌寬度從100μm新增到255μm,換句話說,隨著掃描速度的新增,磁軌寬度减小。該趨勢符合圖5.6中的實驗數據。<br>
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