monolayers were characterized using

monolayers were characterized using neutron and Xray
reflectometry, while the lateral structure was investigated using grazing incidence X-ray diffraction and Brewster angle
microscopy.

結果 (繁體中文) 1:

採用中子和 x 射線的單分子膜進行了表徵反射，採用掠入射 x 射線衍射和布儒斯特角的橫向結構進行了探討顯微鏡。

結果 (繁體中文) 2:

用中子和X射線單層特徵
反射，而橫向結構，使用掠入射X射線衍射和布魯斯特角調查
顯微鏡。

結果 (繁體中文) 3:

利用中子和X射線反射特徵
單層，而橫向結構採用掠入射X射線衍射和布魯斯特角
顯微鏡研究。