Secondary phases could not be detec

Secondary phases could not be detected by XRD analysis due to the addition of 2.5 wt % of NiO.It assumed that the NiO addition in the grain boundary regions suppresses the grain growth during the sintering process, ensuing in a reduced densification of ceramic samples.With a further increase in the NiO content, εr swings in the same range.Moreover, the curie temperatures of BTO+NiO ceramics also show the same trend and the dielectric data of all samples. There are a range of ideas for explaining of the dielectric behaviors of NiO doped ceramic materials.

結果 (繁體中文) 1:

二次相不能被XRD分析，由於加入的NiO 2.5％（重量）來檢測。
它假定氧化鎳除了在晶粒邊界區域中抑制在燒結過程中的晶粒生長，在陶瓷樣品的減少的緻密化隨後的。
與所述的NiO含量的進一步增加，介電常數εr在同一範圍內擺動。
此外，BTO +氧化鎳陶瓷的居里溫度也顯示出相同的趨勢，所有樣品的介電數據。存在用於氧化鎳的介電行為的說明摻雜的陶瓷材料的範圍內的想法。

結果 (繁體中文) 2:

XRD 分析無法檢測到第二相，因為增加了 2.5 wt% 的 NiO。
它假定穀物邊界區域的NiO添加抑制了燒結過程中的穀物生長，隨後減少了陶瓷樣品的緻密性。
隨著 NiO 含量的進一步增加，r 在同一範圍內擺動。
此外，BTO_NiO陶瓷的居裡溫度也顯示了相同的趨勢和所有樣品的介電資料。解釋NiO摻雜陶瓷材料的介電行為有一系列的想法。

結果 (繁體中文) 3:

加入2.5wt%的NiO後，XRD分析未發現二次相。
假設NiO在晶界區的加入抑制了燒結過程中的晶粒長大，從而降低了陶瓷樣品的緻密化程度。
隨著NiO含量的進一步新增，εr在相同範圍內波動。
此外，BTO+NiO陶瓷的居裡溫度也呈現出相同的趨勢，並且所有樣品的介電數據也一致。對於NiO摻雜陶瓷材料的介電效能有一系列的解釋。