Secondary phases could not be detec

Secondary phases could not be detected by XRD analysis due to the addition of 2.5 wt % of NiO.It assumed that the NiO addition in the grain boundary regions suppresses the grain growth during the sintering process, ensuing in a reduced densification of ceramic samples.With a further increase in the NiO content, εr swings in the same range.Moreover, the curie temperatures of BTO+NiO ceramics also show the same trend and the dielectric data of all samples. There are a range of ideas for explaining of the dielectric behaviors of NiO doped ceramic materials.Fig. 3 shows the comparison of pure BTO and 0.5, 1.5 and 2.5 wt % NiO added BaTiO3 ceramic sample which is sintered at 12800C. This XRD results provide intensity in the range of 200 to 900 2Theta for unwanted secondary phase identification. In pure BTO two twin peaks was found at 450 and 750 2Theta where the plane was (002) and (103). With the addition of various amounts of NiO nanoparticles the intensity is being narrow for doped ceramic sample.

結果 (繁體中文) 1:

二次相不能被XRD分析，由於加入的NiO 2.5％（重量）來檢測。
它假定氧化鎳除了在晶粒邊界區域中抑制在燒結過程中的晶粒生長，在陶瓷樣品的減少的緻密化隨後的。
與所述的NiO含量的進一步增加，介電常數εr在同一範圍內擺動。
此外，BTO +氧化鎳陶瓷的居里溫度也顯示出相同的趨勢，所有樣品的介電數據。存在用於氧化鎳的介電行為的說明摻雜的陶瓷材料的範圍內的想法。

圖3示出純BTO的比較和0.5，1.5和2.5重量％的NiO加到其在12800C燒結鈦酸鋇陶瓷樣品。這個X射線衍射結果在200〜9002θ處的不想要的二次相鑑定的範圍內提供強度。在純BTO兩張峰在450和750，其中2θ處的平面為（002）和（103）被發現。通過添加各種量的NiO納米顆粒的強度正在窄用於摻雜的陶瓷樣品。

結果 (繁體中文) 2:

XRD 分析無法檢測到第二相，因為增加了 2.5 wt% 的 NiO。
它假定穀物邊界區域的NiO添加抑制了燒結過程中的穀物生長，隨後減少了陶瓷樣品的緻密性。
隨著 NiO 含量的進一步增加，r 在同一範圍內擺動。
此外，BTO_NiO陶瓷的居裡溫度也顯示了相同的趨勢和所有樣品的介電資料。解釋NiO摻雜陶瓷材料的介電行為有一系列的想法。

圖3顯示了純BTO和0.5、1.5和2.5 wt%NiO添加的BaTiO3陶瓷樣品的比較，該樣品在12800C下燒結。此 XRD 結果提供強度在 200 到 900 2Theta 範圍內，用於不需要的二相識別。在純BTO中，在450和750 2Theta發現了兩個雙峰，其中平面為（002）和（103）。隨著各種NiO納米顆粒的加入，摻雜陶瓷樣品的強度正在縮小。

結果 (繁體中文) 3:

加入2.5wt%的NiO後，XRD分析未發現二次相。
假設NiO在晶界區的加入抑制了燒結過程中的晶粒長大，從而降低了陶瓷樣品的緻密化程度。
隨著NiO含量的進一步新增，εr在相同範圍內波動。
此外，BTO+NiO陶瓷的居裡溫度也呈現出相同的趨勢，並且所有樣品的介電數據也一致。對於NiO摻雜陶瓷材料的介電效能有一系列的解釋。
圖3顯示了純BTO與0.5、1.5和2.5 wt%NiO添加的BaTiO3陶瓷樣品（在12800℃燒結）的對比。該XRD結果提供了200到900 2eta範圍內的强度，用於不需要的二次相鑒定。在純BTO中，在450和7502 eta處發現了兩個雙峰，其中平面為（002）和（103）。加入不同數量的NiO納米粒子後，摻雜陶瓷樣品的强度變小。