From the L27 specimen, three indica

From the L27 specimen, three indicated specimen’s parameters are chosen and has been simulated to analysis the relation between temperature and surface roughness. Figure 5.9 shows results of single layer simulations. The maximum temperature varies with time and the simulation results are plot in figure 5.10, figure 5.11, figure 5.12. The maximum temperature rises rapidly when the laser starts to heat the powder layer, and reaches to the temperature around 3200 K, 3100K, 4200K separately. The maximum temperature of crests elevates gradually till the equilibrium of the energy balance. The valley in the plot appears when the laser stops to heat the powder layer and starts to heat the next scanning track. The simulation result shows that the maximum temperature around vaporing temperature of the material has the better surface roughness. The worst surface roughness of specimen appears when the maximum temperature exceeds much more than the vaporing temperature. Crests in the figure 5.10 and 5.12 are lower than previous crests which is because the laser beam in the last path is part out of the observing region, and only parts of energy have been obtained.

結果 (繁體中文) 1:

從L27標本，三指示樣本的參數被選擇，並進行了模擬，以分析溫度和表面粗糙度之間的關係。圖5.9示出了單層的模擬結果。最高溫度隨時間而變化，仿真結果如圖5.10情節，圖5.11，圖5.12。最高溫度急劇上升，當激光開始加熱粉末層，並到達圍繞3200 K，3100K，4200K分別溫度。牙的最高溫度逐漸升高，直至能量平衡的平衡。當激光停止向加熱粉末層，並開始加熱下一個掃描軌跡中的情節谷出現。仿真結果表明，圍繞vaporing的材料的溫度的最高溫度具有較好的表面粗糙度。當最大溫度超過得多比vaporing溫度試樣的最差表面粗糙度出現。圖中的5.10和5.12的波峰比以前低波峰這是因為在最後的路徑中的激光束的一部分進行觀察區域的，並且已經獲得只有能量的部分。

結果 (繁體中文) 2:

從L27試樣中選取了三個指示的試樣參數，並進行了類比，分析了溫度與表面粗糙度的關係。圖 5.9 顯示了單層模擬的結果。最高溫度隨時間而變化，類比結果圖 5.10，圖 5.11，圖 5.12。當鐳射開始加熱粉末層時，最高溫度會迅速升高，分別達到 3200 K、3100K、4200K 的溫度。峰頂的最高溫度逐漸升高，直到能量平衡的平衡。當鐳射停止加熱粉末層並開始加熱下一個掃描軌道時，圖中的山谷會出現。模擬結果表明，材料蒸氣溫度周圍的最高溫度具有較好的表面粗糙度。當最高溫度超過蒸發溫度時，樣品的最差表面粗糙度就會出現。圖5.10和5.12中的波峰低於以前的波峰，這是因為最後一條路徑中的雷射光束是觀測區域的一部分，並且只獲得了部分能量。

結果 (繁體中文) 3:

從L27試樣中選取了三個訓示的試樣參數，並進行了類比，分析了溫度與表面粗糙度的關係。圖5.9顯示了單層類比的結果。最高溫度隨時間變化，類比結果如圖5.10、圖5.11、圖5.12所示。當雷射開始加熱粉末層時，最高溫度迅速升高，分別達到3200k、3100K、4200K左右。峰的最高溫度逐漸升高，直至能量平衡。當雷射停止加熱粉末層並開始加熱下一個掃描軌跡時，圖中的穀出現。類比結果表明，資料蒸發溫度附近的最高溫度具有較好的表面粗糙度。當最高溫度遠高於汽化溫度時，試樣表面粗糙度最差。圖5.10和5.12中的波峰低於先前的波峰，這是因為最後一條路徑中的雷射束部分超出了觀察區域，並且只獲得了部分能量。