Structural equation modelling (SEM)

Structural equation modelling (SEM) techniques have been suggested as a rigorous method to examine the reliability and validity of instruments and the significance of relationships between constructs, providing a set of indices for evaluating the model fit (Tabachnick & Fidell, 2007). SEM techniques are best suited to data analysis in confirmatory research (Gefen, Straub, & Boudreau, 2000). Partial least squares (PLS) is a second generation data analysis technique that can be used to perform path analytic modelling with latent variables and test the extent to which IS research meets recognized standards for high quality statistical analysis and SEM techniques (Chin, 1998; Gefen et al., 2000).

結果 (繁體中文) 1:

結構方程模型（SEM）技術已被建議作為一個嚴格的方法來檢查儀器的可靠性和有效性和結構之間的關係的重要性，用於評估模型擬合（Tabachnick＆Fidell，2007）提供了一組索引。

SEM技術最適合在確證研究（葛粉，斯特勞布，和布德羅，2000）的數據分析。

偏最小二乘法（PLS）是可以被用來執行與潛在變量路徑分析建模和測試到作為研究符合公認的高品質的統計分析和SEM技術（展，1998標準的程度的第二代的數據分析技術;葛粉等人，2000）。

結果 (繁體中文) 2:

結構方程建模（SEM）技術被提出作為檢驗儀器的可靠性和有效性以及構造關係重要性的嚴格方法，為評價模型擬合提供了一套指標（塔巴奇尼克 – 菲德爾，2007年）。

SEM 技術最適合於確認性研究中的資料分析（Gefen、Straub 和 Boudreau，2000 年）。

部分最小二乘（PLS）是一種第二代資料分析技術，可用於使用潛在變數執行路徑分析建模，並測試IS研究在多大程度上符合高品質統計分析和SEM的公認標準技術（欽，1998年;Gefen等人，2000年）。

結果 (繁體中文) 3:

結構方程模型（SEM）科技被認為是檢驗儀器可靠性和有效性以及結構間關係重要性的嚴格方法，為評估模型擬合提供了一套名額（Tabachnick&Fidell，2007）。
掃描電鏡科技最適合驗證性研究中的資料分析（Gefen、Straub和Boudreau，2000）。
偏最小二乘（PLS）是第二代資料分析科技，可用於對潜在變數進行路徑分析建模，並測試研究滿足高品質統計分析和掃描電鏡科技公認標準的程度（Chin，1998；Gefen等人，2000）。